《從高校學霸到科研大能》第69章 成果歸屬權?朱炳坤:我分你一個點!(1)

作者:不吃小南瓜·3個月前

工作間裡,張明浩盯著螢幕上的資料,仔細思考著。

實驗室的專案做的已經很好了。

他們製造出了高質量多層錫烯,並可以對其進行直接性測定。

‘拓撲邊緣態’的直接性測定是最頂尖理論驗證成果,再進一步,測定到明確的伊辛超導訊號,研究可以說達到了極限。

再往上,就是製造穩定的單原子錫烯薄膜,也就是真正的錫烯。

這很難,大機率永遠做不到。

就象是鄧凱說的那樣,碲化鉍不一定是最適合的襯底材料。

即便碰運氣式的製備出極其少量的單原子錫烯薄層,也不能進行直接性的檢測。

所以突破點還是要在穩定上。

“如何才能製造穩定的多層錫烯?”

“或者說,怎麼去設計實驗才能控制錫烯自主平穩的在襯底表層生長?”

張明浩研究重心,放在瞭如何利用碲化鉍襯底製造出穩定的多層錫烯薄膜上。

最新的實驗資料很關鍵,他認真分析資料,花了一整天時間,才理清了與研究具有相關性的脈絡。

下一步就是總結計算、推導分析,把各種資料放在一起,再嘗試做出一個錫烯薄層和襯底關聯的大模型框架。

關聯模型框架至關重要,想要做出穩定的多層錫烯薄膜,首先要保證做出來的必須都是錫烯薄膜,沒有那些堆積的實驗廢物,再去解決穩定性問題。

有半導體模型的設計經驗,框架設計大方向是沒有問題的,再加之對框架要求不高,一步步做出來非常的順利。

下一步就是追求穩定性。

在關聯模型框架內,如何聯絡碲化鉍表層特性以及實驗過程,讓錫烯實現製備過程中的穩定生長?

實驗室到處都在忙碌著,張明浩在其中並不顯眼。

這天上午變得不同。

很多人都在樓道里興奮地討論著,因為實驗有了突破性的進展,他們製作出的一組錫烯樣品中,出現了質量極高的錫烯薄層。

質量極高,也就是高於原來製造出來的薄層,就可能直接性檢測到一些特性。

陳帥不急不慢的下了二樓,朝著檢測室走去。

在路過博士生工作間的時候,他扭頭見到張明浩,頓時停下喊了聲,“你不去看看嗎?”

“新的樣品,測定到了穩定的伊辛超導訊號!”

“啊?哦。”

張明浩抬了下頭,迎合了一聲又低頭繼續思考起來。

陳帥好奇的走了過來,“你好象不怎麼高興?”

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